Conferencias Plenarias

 

 


Advanced Materials Characterization Using Powder Diffraction Techniques and the Powder Diffraction File (TM)

Thomas N. Blanton, T.G. Fawcett, J.R. Blanton, S.N. Kabbekodu

International Centre for Diffraction Data (ICDD) , Newtown Square, PA, USA


Difracción de electrones en microscopia electrónica de barrido-transmisión (STEM).

Domingo I. García

FIME, Universidad Autónoma de Nuevo León, Monterrey, N.L., México.

 


Aplicaciones de Difracción de rayos X in situ para estudios no invasivos en artefactos prehispánicos.

José Luis Ruvalcaba

Intituto de Física, UNAM, México.

 


Determinación de estructuras cristalinas de materiales moleculares utilizando difracción de rayos-X de polvos.

Javier Hernández

Universidad de Sonora, Hermosillo, Sonora, México.

 


Synchrotron light diffraction and scattering in functional materials.

Luis Fuentes

Centro de Investigación en Materiales Avanzados, Chihuahua, Chih., México.

 


La difracción de rayos X aplicada a las ciencias de la tierra

Teresa Pi

Intituto de Geología, UNAM, México.