Conferencias Invitadas

IX Congreso Nacional de Cristalografía


Graciela Díaz de Delgado
Venezuela
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Marcia Fantini
Brasil
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Sven Lidin
Suecia
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María Elena Villafuerte
México
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Bokhimi
México
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Gonzalo González
México
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Javier Martínez Juárez
México
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Jesús Palacios Gómez
México
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Arturo Ponce
Estados Unidos
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Adela Rodríguez
México
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José Chávez Carvayar
México
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María Eugenia Mendoza Alvarez
México
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Patricia Quintana Owen
México
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José Miguel Delgado
Venezuela
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Lorena Pardo Mata
España
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Amador González Crespo
España
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XII Congreso Nacional de Microscopia


Kildare Miranda
Brasil
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Wanderley de Souza
Brasil
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Francisco Capani
Argentina
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Gema Gonzalez
Venezuela
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Miguel Avalos
México
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Alberto Ruíz Marines
México
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VIII Reunión Nacional de Usuarios de Luz Sincrotrón


Michele Zema
Italia
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José Jiménez Mier y Terán
México
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Björn Winkler
Alemania
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Harald Reichert
Francia
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Marius Ramírez Cardona
México
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Matías Moreno
México
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Vivian Stojanoff
Estados Unidos
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María Elena Montero Cabrera
México
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Luis Fuentes Cobas
México
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Mayra Cuéllar Cruz
México
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Presentaciones Comerciales


Patrick Shaw Stewart
Douglas Instruments Ltd, Hungerford, UK
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Leopoldo Enríquez
JEOL, Mexico
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ORGANIZACION

Comité Organizador General

José Reyes-Gasga
Jesús Á. Arenas Alatorre
Abel Moreno Cárcamo
Mayra Cuéllar Cruz
Lauro Bucio Galindo
Gustavo Tavizón Alvarado
Adolfo E. Cordero Borboa
Luis Felipe Jiménez García
Manuel Espinosa Pesqueira

Comité Organizador Local

Erick Juárez-Arellano
Ana Karin Navarro-Mtz
Miguel Angel Peña-Rico
Mario Valera Zaragoza
Isaac Machorro Cano
Mónica G. Segura Ozuna
Nelda X. Galero Martinez
Delia E. Páramo Calderón
Alejandro Aparicio Saguilan

Cursos

  • Microscopia electrónica de barrido y técnicas de EDS

    Carlos Segovia & Enrique Enriquez, Micra programa del curso

    SAXS a Powerful Method for Nano-Materials Characterization

    Gerd Langenbucher, Sales Director SAXS-Anton Paar The Americas programa del curso

    Observación e interpretación de imágenes CrioTEM y Tomografía

    Abrahan Hernández, JEOL & Luis Felipe Jiménez, FCUNAM programa del curso

    Resolviendo estructuras por TEM & STEM

    Arturo Ponce Pedraza, Univ. Texas, San Antonio programa del curso

    Uso de la base de datos PDF-4+ en el Análisis de Materiales por Diffracción. Minería de datos

    Miguel Delgado, Univ. de los Andes, Venezuela; Lauro Bucio, IFUNAM, México programa del curso

    Radiación Sincrotrón

    programa del curso