Cristalografía de Policristales por Difracción de Rayos X

Por:

  • Gerardo Cabañas Moreno.
  • Rubén Alfredo Toscano.

 

 

Introducción

I. Composición de la muestra

Preparación de la muestra

II.1 Polvos
II.2 Muestras Masivas
II.3 Muestras para Difractometría
III. Difractometría

III. 1 Rasgos Generales de un Difractómetro
III.2 Monocromatización de Rayos X
III.3 Medición de Intensidades
III.4 Espectro de Rutina
III.5 Exactitud de las Mediciones
III.6 Interpretación de Datos de Difracción
III.7 Asignación de Indices y Determinación de Parámetros Reticulares

IV. Determinación de la Estructura

IV. 1 Límites
IV.2 Extracción de los Factores de Estructura
IV.3 El problema de la Fase, la Densidad Electrónica y su Representación
IV.4 Métodos de. Solución de la Estructura

a) Ab initio
b) A prior¡
c) Completado de la Estructura

IV.5 Refinamiento de la Estructura

a) Método Rietveld
b) Método de Dos Etapas


V. Presentación de Resultados


VI. Referencias

 

DR.@1997, SMCr. México. Primer Congreso Nacional 1997. San Luis Potosí México

SMCr. 2004